CERN、IHEP、METAS、NISTで運用中です。
ミリオーム（ｍΩ）レベルの低抵抗についてトレース（JCSS)をとって校正するツールです。
シャント抵抗の校正システムです。システム構成はモジュール構造で、仕様変更、拡張は容易です。
試験用の計測電流は5000Aまで、オプションではそれ以上もサポートしています。
計測比率は10～ 1,000,000まで、可能です。
完全なターンキーシステムです。
6242システムは１G,1000Vオプション
適用事例は
① 抵抗標準の校正に
② マルチメータの校正に
③ 直流電流シャントの校正に
④ 抵抗器の発生温度測定(※１ 下記）
⑤ 抵抗器の温度と抵抗値の関係測定に
計測不確かさは、概ね1ppm以下。
線形性 0.01 ppm以下。
完成した計測システムです。
3000Aまで
MIは被校正素子に1mΩ以下の低抵抗を校正するシステムを紹介しています。
150A、300A、さらには3000Aまで計測電流を実際に流し”抵抗計測するシャント抵抗計測システム”、”変流器の出力を校正するシステム”です。
構成システムはモジュール化していますので、お客様の目的に従って仕様変更することも可能です。
17025認証を受けて、お客様の作業支援、作業設計、校正サービスをさせていただきます。
メジャーメンツインターナショナル（MI）のDCCT測定システムは、市販システムで最高の精度と最低の不確かさを実現しています。高電流レンジエクステンダを活用し、MIモデル6010およびMIモデル6242の測定機能を拡張し、より大きな電流でより小さい抵抗値を測定することで <20ppm @10μΩ、2ppm @100μΩ、1ppm @1mΩ、0.2ppm @10mΩ、0.17ppm @100mΩ、0.1ppm @1Ωおよび0.1ppm @10kΩの計測不確かさを達成しています。
MIは最初に自動直流抵抗ブリッジを開発しました。最新の電流コンパレータの技術を活用したDCCT測定システムで、既に確立している測定原理に基づいて設計しています。国研機関（NMI）がサービスされる直流抵抗の校正に活用いただける装置と、可能な限り小さな不確かさでトレーサビリティを維持することが必要な校正機関のサービスで活用いただける校正技術を持っています。
MIのDCCT校正システムのユーザはCERN、NIST、IHEP（中国国研）です。現在運用中です。
御客様のサポートパートナーとしてMIは、コーチング、システム設計、導入、校正サービス、および継続的な専門家サポートを通じて、すべてのMI製品との競争上の優位性を保証し、優れた製品知識およびアプリケーションの専門技術を提供します。
MI 6010および6242シリーズのDCCT測定システムは、市販の計測システムの中で、最も広い計測範囲で最も不確かさが小さくシステムを提供します。反転スイッチを使用して正電流振幅と負電流振幅を切り替えることで両極性の電流不整合による誤差を無くせるようにしています。
MIはこれを提供する唯一のメーカです。
DCCT 校正システム紹介論文
Design and Verification of a 24 kA Calibration Head for a DCCT Test Facility
CERNのDCCT校正システムとしてMIシステムを、1999年から活用されている、と紹介しています。運用中です。
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOL. 48, NO. 2, APRIL 1999
A Novel Current Calibration System up to 20 kA
CERNのDCCT校正システム、校正不確かさを紹介しています。
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOL. 52, NO. 2, APRIL 2003