電流比較型ブリッジ 一次抵抗/温度ブリッジ6010D (0.01Ω~100kΩ)
6010D 計測設定から計測結果までの計測トライアル 動画情報です。100Ω:100Ω、20個のデータの計測時間は4分以下です。
6010Dを使用すると、抵抗校正作業の実時間が短縮化が期待できます。条件設定(Ix、サンプル速度 等)の後、ラフ計測、安定した計測結果を得るまでの時間が短いのです。
直流ブリッジは中核素子DCCに発生する残留磁束がゼロになるよう巻線制御回路が動作します。MIのブリッジは、計測開始から短時間(例えば2分)で、残留磁束が目標の条件に到達します。この計測条件が整ったことを受け、計測を開始します。
この短時間に計測条件に到達する方式がMI独自の機構によるのです。
この計測器6010シリーズの一号機(6010A)は、1992年に発売しており、製品性能に改良を加え、現在の最新機種(6010D)を販売中です。日本国内でも多数、活用されています。MIJapanスタッフは、計測器の納入時、運用トレーニングをさせていただいております。ご質問があれば、ご遠慮なく、お問い合わせください。
御客様の要求仕様(例)
一次の校正機関用の標準抵抗ブリッジです。また品質管理を意識する世界のトップに位置する航空機製造メーカ(ボーイング、ロッキード・マーチン、ノースロップ・グラマン)はこのMIブリッジを活用していることを公表しています。
(この計測器を導入いただくと、国研機関の直流抵抗の校正環境を容易に実現できます。)
この計測器で、有効期間がある補正処理は実施しておりません。
計測環境の温度変化に影響を受け難いです。(許容動作温度 18℃~28℃)
特長
1.計測範囲0.01Ω ~ 100KΩ
3.比率計測精度 < 40 x 10-9 、比1:1; < 40 x 10-9 、比10:1
公的機関による精度確認サービスも利用できます。(ppbレベル)
4.線形計測精度 < 5 x 10-9
5.独自設計の直流コンパレータ(バイナリー巻)を使用
6.正面のタッチパネル操作か同梱するPC計測ソフトウェアで操作
7.計測を制御すGPIBコマンドも公開済み、よってお客様で制御ソフトウェア開発も可能
8.4220マトリックススキャナー、6011レンジエクステンダと組み合わせシステム運用
9.7 インチのタッチスクリーンとUSBポートを装備
10.比率計測精度の評価方法
評価は、比1:1 インターチェンジ法を採用しています。(これはMI社のオリジナルの考え方です。)
11.比率計測の補正
MIブリッジでは仕様の計測精度を確保するための補正処理はありません。報告されている内容によると、3年経過で特性変化は0.01ppmもありませんでした。
国研機関のユーザ: NRCC(カナダ), NIST(アメリカ), CENAM(メキシコ), METAS(スイス), PTB(ドイツ), CMI(チェコ), Singapore(シンガポール), NIMT(タイ), NMIJ(日本), NewZealand(ニュージーランド), NMIA NIM(オーストラリア), INMETRO(ブラジル), INTI(アルゼンチン), INTA(スペイン), All the major NMI’s worldwide.
(すべて、情報公開された内容です。)
ブリッジ 3.5年間運用で 計測ドリフト
CCC校正結果と比較試験を実施した結果を、3.5年前の結果と比較しました。
最大差は10Ω:1Ωで0.009ppmでした。
(国際会議で発表しています。)
6010Dシステム実証検証
(弊社事務所で実施)
弊社はシステムをMIカナダから輸入、動作確認を行った後、客先に出荷しています。
左の写真のシステムは、下から電源6150、レンジエクテンダ6011、そして直流抵抗ブリッジ6010Dです。
直流抵抗・校正システムの標準器です。世界はもちろん、日本国内で同システムを多数活用いただいています。